-
人才標(biāo)準(zhǔn)：有德 有才 有目標(biāo)
用人理念：平等 關(guān)愛(ài) 和諧 尊重 提升
人才培訓(xùn)：以目標(biāo)選人才，以業(yè)績(jī)論英雄
上海林頻儀器股份有限公司座落于中國(guó)上海市科技產(chǎn)業(yè)基地奉賢區(qū)臨海工業(yè)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)、 生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場(chǎng)洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。
服務(wù)支持
技術(shù)服務(wù)與支持
- 技術(shù)服務(wù)支持
- 聯(lián)系技術(shù)支持
- 客戶服務(wù)部門
- 投訴及報(bào)修
- 留言反饋
-
網(wǎng)絡(luò)資訊中心
- 營(yíng)銷網(wǎng)絡(luò)
- 樣本在線下載
- 林頻論壇
- 在線訂購(gòu)
- 在線調(diào)查
- 林頻儀器舉辦真空與超低溫試驗(yàn)箱專業(yè)知識(shí)培
- 攜手共進(jìn) 領(lǐng)航未來(lái)
- 關(guān)注林頻微信公眾號(hào) 您身邊的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備
- 創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)變革 快溫變?cè)囼?yàn)箱助力大唐移動(dòng)
- 電裝中國(guó)再次攜手林頻 世界五百?gòu)?qiáng)紛至沓來(lái)
- 上海市奉賢區(qū)國(guó)資委領(lǐng)導(dǎo)調(diào)研林頻儀器
- 專注高端訂制 美國(guó)Kaftan Technology跨越國(guó)
- 逆風(fēng)飛揚(yáng) 簽約玻璃巨頭福耀集團(tuán)
- 最近暢銷產(chǎn)品
- 試驗(yàn)箱系列
- 老化箱系列
- IP防護(hù)試驗(yàn)裝置
- 試驗(yàn)機(jī)系列
-
步入式非標(biāo)實(shí)驗(yàn)室，助力中國(guó)航天
通過(guò)層層篩選,林頻在國(guó)內(nèi)外眾多知名廠商激烈角逐中脫穎而出,成功中標(biāo)!訂購(gòu)一批低溫儲(chǔ)藏試驗(yàn)室,用于靶場(chǎng)氫鎳電池組的貯存和活化間內(nèi)的活化測(cè)試.
-
模擬自然工況,為科研事業(yè)保駕護(hù)航
我司與中國(guó)科學(xué)院眾多分院機(jī)構(gòu)、直隸事業(yè)單位、共建單位及直接投資的控股企業(yè)已有近百次愉快合作，林頻儀器已成為中科院環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備首選供應(yīng)品牌.
-
環(huán)境試驗(yàn)箱,為教育單位添磚加瓦
林頻與各所百年老校已有多年合作經(jīng)驗(yàn),雙方收獲的不僅僅是利益，還有友誼與感動(dòng)，林頻在此祝福所有誨人不倦的老師們“誠(chéng)潤(rùn)桃李滿天下 勤育英才澤神州”!
IEC（國(guó)際電工委員會(huì)）
標(biāo)準(zhǔn)用為確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在各種環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。
認(rèn)證詳細(xì)
| 一、電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) GB/T 2423/ IEC60068-2 | |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)A：低溫 |
| 標(biāo)準(zhǔn)號(hào) | GB/T 2423.1-2008；IEC 60068-2-1:2007 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 |
| 試驗(yàn)?zāi)康? | 本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。
本低溫試驗(yàn)不能用來(lái)評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力 和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T 2423.22。 |
| 低溫試驗(yàn)方法 |
——非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)： ● 試驗(yàn)Ab，溫度漸變-溫度穩(wěn)定后通電 ——散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)： ● 試驗(yàn)Ab，溫度漸變； ● 試驗(yàn)Ae，溫度漸變，試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程通電。 |
| 嚴(yán)酷等級(jí) | 溫度：-65℃ -55℃ -50℃ -40℃ -33℃ -25℃ -20℃ -10℃ -5℃ 5℃ 時(shí)間：2h 16h 72h 96h |
| 適用試驗(yàn)箱 | 低溫試驗(yàn)箱LRHS-101（A B C）-LD、高低溫試驗(yàn)箱LRHS-101（A B C）-L、高低溫交變?cè)囼?yàn)箱LRHS-101(A B C)-LJ、大型步入式高低試驗(yàn)室 |
| 試驗(yàn)箱要求 | 試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度變化速率不超過(guò)1K/min(不超過(guò)5min時(shí)間的平均值) |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)B：高溫 |
| 標(biāo)準(zhǔn)號(hào) | GB/T 2423.2-2008；IEC 60068-2-2:2007 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 |
| 試驗(yàn)?zāi)康?/td> | 本高溫試驗(yàn)的目的僅限于用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。 本高溫試驗(yàn)不能用來(lái)評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T 2423.22。 |
| 高溫試驗(yàn)方法 | ——非散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn)： ● 試驗(yàn)Bb，溫度漸變 ——散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn)： ● 試驗(yàn)Bb，溫度漸變； ● 試驗(yàn)Be，溫度漸變，試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程通電。 |
| 嚴(yán)酷等級(jí) | 溫度：1000℃ 800℃ 630℃ 500℃ 400℃ 315℃ 250℃ 175℃ 155℃
70℃ 65℃ 60℃ 55℃ 50℃ 45℃ 40℃ 35℃ 30℃ 持續(xù)時(shí)間：2h 16h 72h 96h 168h 240h 336 1000h |
| 適用試驗(yàn)箱 | 高溫試驗(yàn)箱LRHS-101-LG、大型步入式高溫試驗(yàn)室、高溫老化房 |
| 試驗(yàn)箱要求 | 試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度變化速率不超過(guò)1K/min(不超過(guò)5min時(shí)間的平均值) |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | GB/T 2423.3-2006；IEC 60068-2-78:2001 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) |
| 試驗(yàn)范圍 | 本部分規(guī)定了試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)，如高溫度、高濕度和持續(xù)時(shí)間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品。 本部分適用于小型設(shè)備及元件，同時(shí)也適用于試驗(yàn)箱外的測(cè)試裝置有復(fù)雜聯(lián)接的大型設(shè)備，這種聯(lián)接需要一定的裝配時(shí)間。 在安裝期間，可以不用預(yù)熱或維持特定的試驗(yàn)條件。 |
| 嚴(yán)酷等級(jí) | 試驗(yàn)的溫度、相對(duì)濕度： （30±2）℃ （93±3）%RH （30±2）℃ （85±3）%RH （40±2）℃ （93±3）%RH （40±2）℃ （85±3）%RH 推薦的持續(xù)時(shí)間為：2h、16h、24h和2d、4d、10d、21d或56d。 |
| 適用試驗(yàn)箱 | 恒溫恒濕試驗(yàn)箱LRHS-101-LH、高低溫濕熱試驗(yàn)箱LRHS-101（A B C）-LS、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱LRHS-101（A B C）-LJS、大型步入式高溫濕熱試驗(yàn)室 |
| 試驗(yàn)箱要求 | 散熱樣品的試驗(yàn)，試驗(yàn)箱的容積至少為散熱樣品體積的5倍。 考慮到測(cè)試時(shí)的絕對(duì)誤差、溫度漸變以及工作空間內(nèi)的溫差，本部分中規(guī)定的溫度容差為±2K。為了維護(hù)試驗(yàn)箱內(nèi)的相對(duì)濕度在規(guī)定的容差范圍內(nèi)， 必須保持試驗(yàn)箱內(nèi)的任意兩點(diǎn)在任何時(shí)間內(nèi)其溫度差異盡可能的小。若溫差超過(guò)1K，則不能達(dá)到所需的濕度條件。 短期的溫度波動(dòng)也必須保持±0.5K范圍內(nèi)以維持所要求的濕度條件。 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)） |
| 標(biāo)準(zhǔn)號(hào) | GB/T2423.4-2008 IEC60068-2-30：2005 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)） |
| 試驗(yàn)范圍 | 本部分適用于確定元件、試驗(yàn)或其他產(chǎn)品在高濕度與溫度循環(huán)變化組合且通常會(huì)在試驗(yàn)樣品 表面產(chǎn)生凝露的條件下使用、運(yùn)輸和貯存的適應(yīng)性。如果本試驗(yàn)用于檢驗(yàn)帶包裝樣品在運(yùn)輸和貯存過(guò)程中的性能時(shí)，應(yīng)帶包裝一起進(jìn)行試驗(yàn)。 |
| 嚴(yán)酷等級(jí) | 1、高溫和循環(huán)次數(shù)的組合決定了試驗(yàn)的嚴(yán)酷程度。 2、 嚴(yán)酷程度應(yīng)從下列數(shù)值中選擇 a） 高溫：40℃；循環(huán)次數(shù)：2、6、12、21、56 b） 高溫：55℃；循環(huán)次數(shù)：1、2、6 |
| 試驗(yàn)方法 | 溫度應(yīng)在3h～6h內(nèi)降到25℃±3K。在3h±15min內(nèi)溫度達(dá)到25℃±3K。在最初15min相對(duì)濕度應(yīng)不小于90%外，其余時(shí)間的相對(duì)濕度應(yīng)不小于95%。溫度應(yīng)在3h～6h內(nèi)降到25℃±3K。溫度應(yīng)保持在25℃±3K，同時(shí)相對(duì)濕度不小于95%，直至24小時(shí)一個(gè)循環(huán)結(jié)束。 |
| 適用試驗(yàn)箱 | 恒溫恒濕試驗(yàn)箱LRHS-101-LH、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱LRHS-101（A B C）-LJS、大型步入式溫濕度交變?cè)囼?yàn)室、步入式濕熱循環(huán)試驗(yàn)室 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)Cy：恒定濕熱 |
| 標(biāo)準(zhǔn)號(hào) | GB/T 2423.50-2012 IEC 60068-2-67：1995 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy：恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn) |
| 范圍 | 本部分規(guī)定了一種以加速方式評(píng)價(jià)小型電工電子產(chǎn)品（主要是非氣密元件）耐濕熱劣化效應(yīng)的試驗(yàn)方法。 本試驗(yàn)不適用于評(píng)價(jià)諸如腐蝕和變形等外部效應(yīng)。 |
| 概述 | 在本試驗(yàn)中，樣品在較長(zhǎng)的時(shí)間內(nèi)承受很高的未飽和濕熱蒸汽壓力的作用。通常要施加偏壓。 本試驗(yàn)在相對(duì)濕度為85%、溫度為85℃的條件下，提供多種優(yōu)先選擇的試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間。 就塑封元件而言，劣化是由塑料吸收水汽和水氣沿引出端滲入引起的。 |
| 嚴(yán)酷等級(jí) | 溫度：85℃ 相對(duì)濕度：85% 持續(xù)時(shí)間：168h、504h、1000h、2000h 注：不主張重新開(kāi)始一項(xiàng)試驗(yàn)，但如果要求試驗(yàn)樣品經(jīng)受大于2000h的試驗(yàn)，則應(yīng)該按照第7章的要求重新開(kāi)始。試驗(yàn)應(yīng)在前一試驗(yàn)降溫階段結(jié)束后96h內(nèi)重新運(yùn)行。 除非另有規(guī)定，否則在試驗(yàn)之間的間隔期應(yīng)將試驗(yàn)樣品保持在檢測(cè)或者試驗(yàn)用的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下。 a、 溫度容差：試驗(yàn)箱工作空間內(nèi)為±2K。 b、 相對(duì)濕度容差：±5% c、 持續(xù)時(shí)間容差：+5% |
| 適用試驗(yàn)箱 | 恒溫恒濕試驗(yàn)箱LRHS-101-LH、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱LRHS-101（A B C）-LJS、大型步入式溫濕度交變?cè)囼?yàn)室、步入式濕熱循環(huán)試驗(yàn)室 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)Ed：自由跌落 |
| 標(biāo)準(zhǔn)號(hào) | GB/T 2423.8-1995 IEC 68-2-32：1990 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed：自由跌落 |
| 試驗(yàn)?zāi)康?/td> | 確定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應(yīng)性，或確定安全要求用的最低牢固等級(jí)。 本試驗(yàn)主要用于非包裝的試驗(yàn)樣品，以及在運(yùn)輸箱中其包裝可以作為樣品一部分的試驗(yàn)樣品。 |
| 嚴(yán)酷等級(jí) | 應(yīng)從下列諸值中選取跌落高度： 25mm、50mm、100mm、250mm、500mm、1000mm |
| 試驗(yàn)方法 | 重復(fù)自由跌落 |
| 跌落次數(shù) | 50、100、200、500、1000次 |
| 跌落高度 | 500mm |
| 跌落頻率 | 約為每分鐘十次 |
| 匹配設(shè)備 | 跌落試驗(yàn)機(jī)LRHS-318-UD |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)霉 |
| 標(biāo)準(zhǔn)號(hào) | GB/T 2423.16-2008 IEC 60068-2-10：2005 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J及導(dǎo)則：長(zhǎng)霉 |
| 范圍 | 本部分規(guī)定了確定電子產(chǎn)品上長(zhǎng)霉程度和長(zhǎng)霉對(duì)產(chǎn)品特性及其他相關(guān)性能影響的試驗(yàn)方法。 由于長(zhǎng)霉條件包括高的相對(duì)濕度，本試驗(yàn)也可以用于評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品在潮濕條件下一段時(shí)期的運(yùn)輸、貯存以及使用的適應(yīng)能力。 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)方法1： ——外觀檢查確定霉菌生長(zhǎng)程度； ——長(zhǎng)霉引起的物理操作； ——長(zhǎng)霉條件下對(duì)功能和/或電性能的影響，如果相關(guān)規(guī)范中有要求。 如果相關(guān)規(guī)范要求檢查功能和/或測(cè)量電性能，培養(yǎng)期應(yīng)延長(zhǎng)至56d。 試驗(yàn)方法2： 用營(yíng)養(yǎng)液對(duì)樣品預(yù)處理后，進(jìn)行為期28d的培養(yǎng)，確定： ——外觀檢查確定霉菌生長(zhǎng)程度； ——長(zhǎng)霉引起的物理操作； ——長(zhǎng)霉條件下對(duì)功能和/或電性能的影響，如果相關(guān)規(guī)范中有要求。 通過(guò)使用營(yíng)養(yǎng)液來(lái)模擬污染未長(zhǎng)霉的樣品，會(huì)降低樣品表面的防霉性能。如果檢查功能和/或測(cè)量電氣性能，應(yīng)當(dāng)考慮該影響。 使用營(yíng)養(yǎng)液會(huì)發(fā)生長(zhǎng)霉；如果沒(méi)有長(zhǎng)霉，應(yīng)當(dāng)考慮防霉劑的影響。 |
| 試驗(yàn)設(shè)備要求 | 小試樣的接種： 應(yīng)采用帶蓋子的、有放置或懸掛樣品及對(duì)照條裝置的玻璃或者塑料容器。 容器的大小和形狀要保證底部有足敞露的水表面積，以保持容器內(nèi)的相對(duì)度大于90%。懸掛裝置應(yīng)保證放置的試樣不浸在水中或?yàn)R到水滴。 容器放入試驗(yàn)箱中以培養(yǎng)樣品和對(duì)照條，試驗(yàn)箱內(nèi)整個(gè)工作空間的溫度均勻保持在28℃～30℃范圍內(nèi)的?？販仄鲃?dòng)作引起的溫度周期循環(huán)變化不應(yīng)超過(guò)1℃/h。 大樣品的接種： 對(duì)于較大的樣品，應(yīng)采用合適的具有良好的密封門的濕度試驗(yàn)箱，以防止箱內(nèi)和實(shí)驗(yàn)室之間的空氣交換。 整個(gè)工作空間的相對(duì)濕度應(yīng)保持大于90%，不允許有冷凝水從試驗(yàn)箱頂部或壁上滴到樣品和對(duì)照條上。整個(gè)工作空間的溫度應(yīng)均勻保持在28℃～30℃范圍內(nèi)，控制器運(yùn)行引起的溫度變化不應(yīng)超過(guò)1℃/h。 為了使整個(gè)工作空間達(dá)到規(guī)定的均勻的溫度和濕度，可以使箱內(nèi)空氣強(qiáng)迫循環(huán)，樣品表面的空氣流速不應(yīng)超過(guò)1m/s。 |
| 嚴(yán)酷等級(jí) | 每種實(shí)驗(yàn)方法的嚴(yán)酷等級(jí)取決于培養(yǎng)周期。 方法1 ——嚴(yán)酷等級(jí)1 28d ——嚴(yán)酷等級(jí)2 56d 方法2 28d |
| 濕熱貯存 | 在接種前，樣品應(yīng)當(dāng)在溫度（29±1）℃、相對(duì)濕度90%～100%的條件下至少貯存4h。 |
| 適用試驗(yàn)箱 | 霉菌試驗(yàn)箱LRHS-101-RJM、LRHS-225-RJM、LRHS-504-RJM、LRHS-800-RJM、LRHS-1000-RJM |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)Ka：鹽霧 |
| 標(biāo)準(zhǔn)號(hào) | GB/T2423.17-2008 IEC 60068-2-11：1981 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧 |
| 試驗(yàn)?zāi)康?/td> | 本試驗(yàn)適用于比較具有相似結(jié)構(gòu)的試樣的抗鹽霧腐蝕的能力。 本試驗(yàn)也適用于評(píng)定保護(hù)性涂層的質(zhì)量以及均勻性。 使用時(shí)，應(yīng)考慮以下的限制： a、 本試驗(yàn)不適合作為通用的鹽霧腐蝕試驗(yàn)； b、 本試驗(yàn)也不適用于在含鹽大氣中使用的單個(gè)試樣的評(píng)定。 對(duì)于設(shè)備以及零部件，試驗(yàn)Kb提供了更符合實(shí)際情況的試驗(yàn)條件以及單個(gè)試樣的評(píng)定方法。 但如果某些情況下為了確保質(zhì)量，相關(guān)規(guī)范要求個(gè)別試樣采用本試驗(yàn)方法時(shí)，試樣應(yīng)當(dāng)作為整個(gè)組件或者設(shè)備的組成部分連同實(shí)際的保護(hù)性設(shè)備（箱體、蓋子、外套等）一起進(jìn)行試驗(yàn)。 |
| 試驗(yàn)方法/條件 | 鹽溶液濃度（5±1）%（質(zhì)量比），（35±2）℃時(shí)PH值6.5～7.2內(nèi) 試驗(yàn)箱的溫度維持在（35±2）℃，收集鹽霧為1.0～2.0mL 80cm2每小時(shí)的沉降量 |
| 試驗(yàn)周期 | 16h、24h、48h、96h、168h、336h、672h |
| 適用試驗(yàn)箱 | 鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱LRHS-108-RY、智能型鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱LRHS-108-RJY、鹽霧試驗(yàn)室 |
| 試驗(yàn)箱要求 | 試驗(yàn)箱內(nèi)的條件維持在規(guī)定的容差內(nèi) 試驗(yàn)箱應(yīng)具有足夠大的容積，能提供穩(wěn)定的、均勻的試驗(yàn)條件（不受湍流的影響），且在試驗(yàn)過(guò)程中這些條件不受試樣的影響 鹽霧不能直接噴射到試樣上 箱頂、箱壁或其他部位集聚的冷凝液不能滴落到試樣上 試驗(yàn)箱應(yīng)排氣良好以防止壓力升高，確保鹽霧分布均勻。排氣孔末端應(yīng)進(jìn)行風(fēng)防護(hù)，以避免試驗(yàn)箱內(nèi)產(chǎn)生較強(qiáng)的氣流 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)Kb:鹽霧，交變(氯化鈉溶液) |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | GB/T2423.18:2000;IEC60068-2-52:1996 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kb:鹽霧，交變(氯化鈉溶液) |
| 試驗(yàn)?zāi)康?/td> | 適用于預(yù)定耐受含鹽大氣的元件或設(shè)備，其耐受程度隨選用的嚴(yán)酷等級(jí)定 |
| 試驗(yàn)方法/條件 | 鹽溶液濃度(5±1)%(質(zhì)量比)，(20±2)℃時(shí)PH值6.5～7.2內(nèi) 噴霧溫度在15～35℃，收集鹽霧每小時(shí)的沉降量在1.0～2.0mL之間 |
| 嚴(yán)酷等級(jí) | 嚴(yán)酷等級(jí)(1):(2h噴霧周期+7天的濕熱貯存)*4次 嚴(yán)酷等級(jí)(2):(2h噴霧周期+20h～22h濕熱貯存)*3次 嚴(yán)酷等級(jí)(3):(2h噴霧周期+20h～22h濕熱貯存)*3次+標(biāo)準(zhǔn)大氣3天貯存 嚴(yán)酷等級(jí)(4),(5),(6):分別為(3)*2次、4次、8次 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)Kc 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法 |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | GB/T 2423.19-1981 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kc 接觸和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法 |
| 試驗(yàn)?zāi)康?/td> | 確定含有二氧化硫的大氣對(duì)貴金屬制的或有貴金屬鍍層的接觸點(diǎn)的接觸特性的影響。但不包括銀和某些銀合金。 |
| 試驗(yàn)方法/條件 | 二氧化硫（注）：25±5ppm（體積比），二氧化碳：不大于4500ppm（體積比），溫度：25±2℃，相對(duì)濕度：75±5% |
| 試驗(yàn)周期 | 4天、10天、21天 |
| 適用試驗(yàn)箱 | 二氧化硫試驗(yàn)箱LRHS-297-SO2 |
| 試驗(yàn)箱要求 | 試驗(yàn)箱內(nèi)放置試驗(yàn)樣品空間的條件應(yīng)在規(guī)定的范圍內(nèi) 試驗(yàn)樣品不應(yīng)直接經(jīng)受氣流的沖擊 試驗(yàn)氣體對(duì)試驗(yàn)樣品的平均相對(duì)速度應(yīng)為20~60米/小時(shí)（約6~17毫米/秒）或使用攪拌裝置使氣體和試驗(yàn)樣品有近似的相對(duì)速度 試驗(yàn)箱的內(nèi)壁不允許出現(xiàn)凝露 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)Kd 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法 |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | GBT 2423.20-1981 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kd 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法 |
| 試驗(yàn)?zāi)康?/td> | 確定含有硫化氫的大氣對(duì)下面材料制成的接觸點(diǎn)和連接件的接觸特性的影響。 銀或銀合金； 有其他保護(hù)層的銀； 用銀或銀合金覆蓋的金屬。 檢查用上述材料做成的包式或卷式的連接件的緊密性和有效性。 |
| 試驗(yàn)方法/條件 | 硫化氫：10~15ppm（體積比），溫度：25±2℃，相對(duì)濕度：75±5% |
| 試驗(yàn)周期 | 4天、10天、21天 |
| 適用試驗(yàn)箱 | 二氧化硫試驗(yàn)箱LRHS-297-SO2 |
| 試驗(yàn)箱要求 | 試驗(yàn)箱內(nèi)放置試驗(yàn)樣品空間的條件應(yīng)在規(guī)定的范圍內(nèi) 試驗(yàn)樣品不應(yīng)直接經(jīng)受氣流的沖擊 試驗(yàn)氣體對(duì)試驗(yàn)樣品的平均相對(duì)速度應(yīng)為20~60米/小時(shí)（約6~17毫米/秒）或使用攪拌裝置使氣體和試驗(yàn)樣品有近似的相對(duì)速度 試驗(yàn)箱的內(nèi)壁不允許出現(xiàn)凝露 試驗(yàn)箱不應(yīng)直接暴露在陽(yáng)光下，并且在試驗(yàn)箱內(nèi)任何暴露表面測(cè)試的照度（由白天光線或白熾燈或日光燈產(chǎn)生）范圍是在50到300勒克司。 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)M 低氣壓 |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | GBT 2423.21-2008；IEC 60068-2-13：1983 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M 低氣壓 |
| 范圍 | 適用于室溫條件下的低氣壓試驗(yàn) |
| 試驗(yàn)方法/條件 | 試驗(yàn)箱（室）內(nèi)的溫度應(yīng)在規(guī)定的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)大氣條件溫度范圍內(nèi)。 將試驗(yàn)箱（室）內(nèi)的氣壓降低到符合規(guī)定嚴(yán)酷等級(jí)的值，如有需要，相關(guān)規(guī)范可規(guī)定氣壓變化速度不大于10kPa/min。 當(dāng)要求樣品在運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，樣品應(yīng)通電或加電氣負(fù)載，應(yīng)檢查確定試驗(yàn)樣品是否能滿足相關(guān)規(guī)范規(guī)定的功能。 試驗(yàn)樣品可按規(guī)定的持續(xù)時(shí)間保持在運(yùn)行狀態(tài)，或是按相關(guān)規(guī)范的要求斷開(kāi)電源。 氣壓應(yīng)保持規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。 使氣壓恢復(fù)到常壓，若相關(guān)規(guī)范有要求時(shí)，氣壓變化的速度應(yīng)不超過(guò)10kPa/min。 |
| 試驗(yàn)周期 | 5min，30min，2H，4H，16H |
| 適用試驗(yàn)箱 | 低氣壓試驗(yàn)箱LRHS-101-LF |
| 試驗(yàn)箱要求 | 在恢復(fù)氣壓至正常時(shí)，應(yīng)注意避免發(fā)生由于輔助設(shè)備、裝置及導(dǎo)入不清潔的空氣而使箱內(nèi)空氣發(fā)生污染的情況。 當(dāng)對(duì)散熱試驗(yàn)樣品進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，相關(guān)規(guī)范可根據(jù)GB/T2423.26的要求對(duì)試驗(yàn)箱（室）進(jìn)行適當(dāng)?shù)囊?guī)定。 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)N 溫度變化 |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | GBT 2423.22-2012；IEC 60068-2-14：2009 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N 溫度變化 |
| 范圍 | 確定元件、設(shè)備和其它產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力。實(shí)現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時(shí)間取決于試驗(yàn)樣品的特性。 |
| 試驗(yàn)方法/條件 | 試驗(yàn)室環(huán)境溫度； 高溫； 低溫；< br /> 暴露持續(xù)時(shí)間； 轉(zhuǎn)換時(shí)間或變換速率； 試驗(yàn)循環(huán)數(shù)。 |
| 適用試驗(yàn)箱 | 快速溫度變化試驗(yàn)箱LRHS-101B-LK |
| 試驗(yàn)箱要求 | 可使用兩個(gè)獨(dú)立的溫度試驗(yàn)箱或一個(gè)快速溫度變化速率的試驗(yàn)箱。 如果使用兩個(gè)試驗(yàn)箱，一個(gè)試驗(yàn)箱用于低溫，一個(gè)試驗(yàn)箱用于高溫，兩試驗(yàn)箱的位置應(yīng)使得試驗(yàn) 樣品從一個(gè)試驗(yàn)箱轉(zhuǎn)換到另一個(gè)試驗(yàn)箱能在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成。可采用人工或自動(dòng)轉(zhuǎn)換方法。 試驗(yàn)箱中放置試驗(yàn)樣品的任何區(qū)域應(yīng)能保持試驗(yàn)規(guī)定的空氣溫度。 在放入試驗(yàn)樣品后，空氣溫度應(yīng)在暴露持續(xù)時(shí)間的10%以內(nèi)達(dá)到規(guī)定的容差范圍。 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)Sa模擬地面上的太陽(yáng)輻射及其試驗(yàn)導(dǎo)則 |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | GBT 2423.24-2013 IEC 60068-2-5：2010 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa模擬地面上的太陽(yáng)輻射及其試驗(yàn)導(dǎo)則 |
| 范圍 | 檢查設(shè)備或部件受太陽(yáng)輻射條件影響的程度 |
| 試驗(yàn)方法/條件 | 溫度：箱內(nèi)溫度應(yīng)下雨1K/min的速率升溫或降溫 濕度：采用IEC 60068-2-78的推薦值 臭氧及其他污染氣體：由濾光器排除箱外 |
| 適用試驗(yàn)箱 | 氙燈耐氣候試驗(yàn)箱LRHS-767S-SN |
| 試驗(yàn)箱要求 | 試驗(yàn)箱內(nèi)設(shè)有能保持規(guī)定濕度、氣流速度和濕度條件的裝置。 試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度測(cè)量應(yīng)在低于規(guī)定的輻射測(cè)量平面0~50mm的水平面上的一個(gè)或幾個(gè)位置處進(jìn)行，測(cè)溫裝置要有足夠的遮擋以防止輻射熱， 同時(shí)這個(gè)（些）測(cè)量位置位于試驗(yàn)樣品和試驗(yàn)箱壁之間一半距離處，或離試驗(yàn)樣品1m的距離，取這兩個(gè)位置距離較小者。 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)Z／AM 低溫／低氣壓綜合試驗(yàn) |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | GBT 2423.25-1992 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z／AM 低溫／低氣壓綜合試驗(yàn) |
| 試驗(yàn)?zāi)康?/td> | 確定元件、設(shè)備和其它產(chǎn)品對(duì)其使用和（或）貯存中遇到的低溫-低氣壓綜合環(huán)境的適應(yīng)性 |
| 試驗(yàn)方法/條件 | 溫度：-55℃，氣壓：4kPa，對(duì)應(yīng)高度：22100m，持續(xù)時(shí)間：2H 溫度：-55℃，氣壓：15kPa，對(duì)應(yīng)高度：13600m，持續(xù)時(shí)間：2H 溫度：-55℃，氣壓：25kPa，對(duì)應(yīng)高度：10400m，持續(xù)時(shí)間：2H |
| 適用試驗(yàn)箱 | 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱LRHS-101A-LF |
| 試驗(yàn)箱要求 | 試驗(yàn)箱應(yīng)能產(chǎn)生和保持GB 2423.1試驗(yàn)Ab或試驗(yàn) Ad和GB 2423.21試驗(yàn)M中規(guī)定的試驗(yàn)條件。 但在溫度和壓力變化期間，對(duì)箱壁的溫度要求不適用。 恢復(fù)壓力時(shí)，應(yīng)避免試驗(yàn)箱的輔助設(shè)備、裝置和引入的空氣對(duì)試驗(yàn)箱內(nèi)的空氣產(chǎn)生污染。 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)Z BM_ 高溫 低氣壓綜合試驗(yàn) |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | GB T 2423.26-2008 IEC60068-2-41：1976 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分_ 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z BM_ 高溫 低氣壓綜合試驗(yàn) |
| 試驗(yàn)?zāi)康?/td> | 確定元件、設(shè)備和其它產(chǎn)品對(duì)其貯存和使用中遇到的高溫-低氣壓綜合環(huán)境的適應(yīng)性。 |
| 試驗(yàn)方法/條件 | 溫度：155℃，氣壓：4kPa，持續(xù)時(shí)間：2H 溫度：85℃，氣壓：4kPa，持續(xù)時(shí)間：2H 溫度：155℃，氣壓：15kPa，持續(xù)時(shí)間：2H 溫度：85℃，氣壓：15kPa，持續(xù)時(shí)間：2H |
| 適用試驗(yàn)箱 | 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱LRHS-101A-LF |
| 試驗(yàn)箱要求 | 試驗(yàn)箱應(yīng)能保持GB/T2423.2試驗(yàn)Bb（非散熱試驗(yàn)樣品）或試驗(yàn)Bd（散熱試驗(yàn)樣品）和GB/T2423.21試驗(yàn)M中規(guī)定的試驗(yàn)條件。 但在溫度和壓力變化期間，對(duì)箱壁的溫度要求不適用。 恢復(fù)壓力時(shí)，應(yīng)避免試驗(yàn)箱的輔助設(shè)備、裝置和引入的空氣對(duì)試驗(yàn)箱內(nèi)空氣產(chǎn)生污染。 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)ZAMD：低溫低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn) |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | GBT2423.27-2005 IEC 60068-2-39：1976 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ZAMD：低溫低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn) |
| 試驗(yàn)?zāi)康?/td> | 由低溫、低氣壓和濕熱組成的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)程序。首先低溫和低氣壓結(jié)合在一起，其次升溫，然后與濕熱條件結(jié)合在一起。 本試驗(yàn)應(yīng)用了試驗(yàn)A和試驗(yàn)M。雖然未完全按照試驗(yàn)D引入濕度，但用“Z/AMD”來(lái)表示本試驗(yàn)最恰當(dāng)和最具提示性。 本試驗(yàn)用于飛行器所使用的元器件和設(shè)備，特別是在非加熱和非增壓部位的元器件和設(shè)備。 |
| 試驗(yàn)方法/條件 | 試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度應(yīng)以不超過(guò)1℃/min（5min的平均值）的速率降低到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的低溫值，這個(gè)值應(yīng)是試驗(yàn)A中給出的數(shù)值之一。 溫度維持在規(guī)定值，試驗(yàn)箱內(nèi)的氣壓應(yīng)以不超過(guò)15kPa/min的速率降至相關(guān)規(guī)范規(guī)定的低壓值； 這個(gè)值應(yīng)是試驗(yàn)M中給出的數(shù)值之一。應(yīng)按相關(guān)規(guī)范進(jìn)行功能檢查或任何必要的檢測(cè)。 |
| 適用試驗(yàn)箱 | 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱LRHS-101A-LF |
| 試驗(yàn)箱要求 | 試驗(yàn)箱應(yīng)能使試驗(yàn)樣品同時(shí)經(jīng)受試驗(yàn)A和試驗(yàn)M分別規(guī)定的嚴(yán)酷范圍的低溫和低氣壓，在1h內(nèi)能從極冷條件升到30℃~35℃。 在升溫且同時(shí)保持相當(dāng)恒定的低氣壓期間，試驗(yàn)箱在裝有試驗(yàn)樣品的工作空間應(yīng)具有加濕或?qū)胨难b置。 由于本試驗(yàn)有水氣進(jìn)入，并常導(dǎo)致絕緣電阻下降，因此試驗(yàn)產(chǎn)品的引線穿過(guò)試驗(yàn)箱壁時(shí)應(yīng)無(wú)破損或交連，并氣密密封。為此連接試驗(yàn)樣品 的引線本身應(yīng)具有適當(dāng)?shù)某叽绾徒^緣。 如果試驗(yàn)樣品有運(yùn)動(dòng)的零部件，它們的運(yùn)動(dòng)可能會(huì)由于試驗(yàn)樣品內(nèi)部結(jié)冰而受到阻礙，那么試驗(yàn)箱應(yīng)具有監(jiān)測(cè)這種運(yùn)動(dòng)的電子或機(jī)械裝置。 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)Kca 高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法 |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | GBT 2423.33-1989 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kca 高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法 |
| 試驗(yàn)?zāi)康?/td> | 適用于確定電子電工產(chǎn)品及其使用材料在化學(xué)腐蝕環(huán)境條件下使用的適用性 |
| 試驗(yàn)方法/條件 | 試驗(yàn)階段：升溫，溫度：18℃~28℃ 升到40±2℃，相對(duì)濕度：≥85%，時(shí)間：1.5~2H 化學(xué)氣體的狀況：開(kāi)始通氣并按規(guī)定控制濃度 |
| 適用試驗(yàn)箱 | 二氧化硫試驗(yàn)箱LRHS-297-SO2 |
| 試驗(yàn)箱要求 | 二氧化硫腐蝕氣體試驗(yàn)箱（室，以下簡(jiǎn)稱腐蝕箱）應(yīng)良好密封，以防止化學(xué)氣體逸出。 它的有效空間應(yīng)滿足本標(biāo)準(zhǔn)3.1條和3.2條的規(guī)定，試驗(yàn)箱并須配備合適的溫度，濕度測(cè)試和控制裝置。 腐蝕箱內(nèi)接觸化學(xué)腐蝕氣體的附件和箱壁應(yīng)采用不與二氧化碳反應(yīng)、不吸收二氧化碳和不影響試驗(yàn)氣體腐蝕效應(yīng)的材料制造。 腐蝕箱內(nèi)有效空間的氣體應(yīng)該流動(dòng)，風(fēng)速應(yīng)不大于1m/s。 腐蝕箱的結(jié)構(gòu)應(yīng)保證凝結(jié)水不滴落在試驗(yàn)樣品上，腐蝕箱還應(yīng)有排氣裝置，使排出的氣體不致污染實(shí)驗(yàn)室及周圍大氣。 試驗(yàn)箱的功能檢驗(yàn)應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)附錄A（補(bǔ)充件）的規(guī)定。 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)ZAD 溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn) |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | GBT 2423.34-2005 IEC60068-2-38:1974 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ZAD 溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn) |
| 試驗(yàn)?zāi)康?/td> | 提供一種組合試驗(yàn)方法，主要用于元器件類試驗(yàn)樣品，以加速方式來(lái)確定試驗(yàn)樣品在高溫、高濕和低溫條件劣化作用下的耐受性能。 |
| 試驗(yàn)方法/條件 | 溫度：（25±2）℃~（65±2）℃，相對(duì)濕度：80%~96% |
| 嚴(yán)酷等級(jí) | 24h循環(huán)10次 |
| 適用試驗(yàn)箱 | 高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱LRHS-101A-LJS |
| 試驗(yàn)箱要求 | 試驗(yàn)樣品暴露于濕熱后，接著暴露于低溫，兩種暴露可在一個(gè)試驗(yàn)箱或在兩個(gè)試驗(yàn)箱內(nèi)進(jìn)行。 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則 |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | GB T 2423.38-2008 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分_ 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則 |
| 試驗(yàn)?zāi)康?/td> | 適用于在運(yùn)輸、貯存或使用期間可能遭受滴水、沖水或浸水的電工電子產(chǎn)品的試驗(yàn)方法，是考核電工電子產(chǎn)品 的外殼和遮蓋物等密封件在水試驗(yàn)后或在試驗(yàn)期間能否保證設(shè)備和元件良好的工作性能。 |
| 試驗(yàn)方法/條件 | 試驗(yàn)Ra：滴水——用人工降雨和模擬冷凝或泄露形成降水的方法進(jìn)行。 試驗(yàn)Rb：沖水——以一定的壓力將水流沖擊試件，并可以假定從任何角度沖向試件。 試驗(yàn)Rc：浸水——將試件浸入到規(guī)定深度或相應(yīng)壓力的水中。 |
| 嚴(yán)酷等級(jí) | 降雨強(qiáng)度R，mm/h（結(jié)合水滴尺寸分布，mm） 10±5（Dso=1.9±0.2）；100±20（Dso=2.9±0.3）；400±50（Dso=3.08±0.4）。 持續(xù)時(shí)間，min 10,30,60,120 降雨高度h，m：0.2,2 傾斜角度α，度：0,15,30,45 持續(xù)時(shí)間，min：3,10,30,60 滴嘴角度α，度：±60 每個(gè)孔中水的流速，L/min：0.07±5% 管子的擺動(dòng)角度β，度：±60 持續(xù)時(shí)間，min：2X5 |
| 適用試驗(yàn)箱 | 滴水試驗(yàn)裝置LRHS-IPX1/IPX2 |
| 試驗(yàn)箱要求 | 人造雨法的滴水試驗(yàn)設(shè)備是由產(chǎn)生水滴的一個(gè)或多個(gè)噴嘴組成。 試件的固定裝置：固定裝置應(yīng)盡可能的模擬試件在使用中的安裝狀態(tài)，例如安裝在墻上的試驗(yàn)設(shè)備，則固定裝置應(yīng)模擬一堵墻。 試件的支架：支架的底座面積應(yīng)小于試件的底座面積，支架座是一個(gè)有1r/min旋轉(zhuǎn)速度和約100mm偏心度的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)（旋轉(zhuǎn)臺(tái)軸線和試件軸線 之間的距離），也可以是一個(gè)不轉(zhuǎn)動(dòng)的臺(tái)子。支架應(yīng)能在任何試驗(yàn)位置上夾住試件，并能根據(jù)需要從垂直面傾斜最大至90°。 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)L 沙法試驗(yàn) |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | GB 2423.37-2006 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L 沙法試驗(yàn) |
| 試驗(yàn)?zāi)康?/td> | 空氣中懸浮的砂塵對(duì)產(chǎn)品的影響 |
| 試驗(yàn)方法/條件 | 試驗(yàn)用塵：干燥的非腐蝕性的細(xì)粉塵，塵濃度：（600±200）g/（㎡?h），氣流：垂直氣流，氣流速度：均勻分布，濕度：≤25% |
| 嚴(yán)酷等級(jí) | 壓力降為2kPa（20mbar）或5kPa（50mbar），持續(xù)時(shí)間2h。 大氣壓，持續(xù)時(shí)間4h |
| 適用試驗(yàn)箱 | 砂塵試驗(yàn)箱LRHS-512-PS |
| 試驗(yàn)箱要求 | 試驗(yàn)箱應(yīng)使樣品暴露于垂直的非層流且含有規(guī)定數(shù)量的塵的氣流中。為此，應(yīng)攪拌試驗(yàn)用塵并且吹入密封試驗(yàn)箱。 試驗(yàn)箱內(nèi)的氣壓應(yīng)能夠按照4.1.4.6的要求進(jìn)行交變。 沉降在試驗(yàn)箱底部的塵應(yīng)循環(huán)使用。 樣品體積不應(yīng)超過(guò)試驗(yàn)箱體積的25%，樣品底座不應(yīng)超過(guò)試驗(yàn)箱工作空間水平面積的50%。 |
| 試驗(yàn)方法 | 試驗(yàn)Cy 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn) |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | GBT 2423.50-1999；IEC 60068-2-67：1995 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn) |
| 范圍 | 一種以加速方式評(píng)價(jià)小型電工電子產(chǎn)品，主要是非氣密元件耐濕熱劣化效應(yīng)的試驗(yàn)方法 |
| 試驗(yàn)方法/條件 | 溫度：85℃，濕度：85% |
| 嚴(yán)酷等級(jí) | 溫度：85℃，濕度：85% 持續(xù)時(shí)間：168,504,1000,2000 |
| 適用試驗(yàn)箱 | 恒溫恒濕試驗(yàn)箱LRHS-101-LH 高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱LRHS-101A-LJS |
| 試驗(yàn)箱要求 | 能產(chǎn)生表1中給出的濕度和相對(duì)濕度條件，并至少保持2000h不間斷； 試驗(yàn)期間，應(yīng)能提供受控的溫濕度條件，并能根據(jù)規(guī)定的斜率升溫和降溫； 試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度和濕度應(yīng)由放置在工作空間內(nèi)或（和）能給出相同結(jié)果的其他區(qū)域內(nèi)的傳感裝置監(jiān)測(cè)； 應(yīng)從工作空間不斷排水，且不能重復(fù)使用； 凝結(jié)水不允許落在試驗(yàn)樣品上； 箱壁結(jié)構(gòu)材料不應(yīng)引起試驗(yàn)樣品的明顯腐蝕和降低加濕用水質(zhì)量 |